传统CT系统使用反射管作为射线源。为了穿透有挑战性的材料或组件较厚的样品需要使用高功率，但高功率会对分辨率产生影响。简单来说，使用的功率越高，分辨率就越差。为了抵消这种现象，需要使用较低的功率水平和相应更长的测量时间。但在使用diondo d1时就无需有这种顾虑。通过使用高功率透射X射线源，与传统系统相比，在相同测量时间下，diondo d1可以获得高达四倍的更高分辨率，或者，测量时间可以缩短四倍，以获得相同的分辨率，这对小批量检测有很大好处，并且不仅限于此。